核輻射探測器高低溫試驗(yàn)
健明迪檢測提供的核輻射探測器高低溫試驗(yàn)，高溫試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模捍_定探測器高溫貯存和使用的適應(yīng)性。 試驗(yàn)方法：將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入溫度為室溫的試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度以規(guī)定的速率調(diào)到規(guī)定值，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
高溫試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康模捍_定探測器高溫貯存和使用的適應(yīng)性。
試驗(yàn)方法： 將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入溫度為室溫的試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度以規(guī)定的速率調(diào)到規(guī)定值。
待試驗(yàn)樣品溫度穩(wěn)定后，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
溫度穩(wěn)定時間由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)在0.5 h~16 h的范圍內(nèi)選取。 試驗(yàn)過程中試驗(yàn)樣品可處于工作狀態(tài)（高溫使用）或不處于工作狀態(tài)（例如高溫貯存）。
試驗(yàn)方法： 將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入溫度為室溫的試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度以規(guī)定的速率調(diào)到規(guī)定值。
待試驗(yàn)樣品溫度穩(wěn)定后，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
溫度穩(wěn)定時間由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)在0.5 h~16 h的范圍內(nèi)選取。 試驗(yàn)過程中試驗(yàn)樣品可處于工作狀態(tài)（高溫使用）或不處于工作狀態(tài)（例如高溫貯存）。
試驗(yàn)背景
核輻射探測器使用一段時間后，其性能保持不變的能力稱為穩(wěn)定性。影響核輻射探測器長期穩(wěn)定性的因素除其本身結(jié)構(gòu)外，主要是使用環(huán)境。因此，要使傳感器具有良好的穩(wěn)定性，必須要有較強(qiáng)的環(huán)境適應(yīng)能力。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
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溫度變化試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康模捍_定探測器對周圍溫度快速變化的耐受能力、適應(yīng)性和工作能力。
試驗(yàn)方法：
a）規(guī)定溫度變化速率的試驗(yàn)：將處于工作狀態(tài)或非工作狀態(tài)的試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱，并以一定速率在低溫與高溫之間改變試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度，使試驗(yàn)樣品經(jīng)受溫度的變化，同時進(jìn)行性能特性檢測。
b）規(guī)定轉(zhuǎn)移時間的試驗(yàn)：將試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫的空氣（或合適的保護(hù)氣體）中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。
試驗(yàn)方法：
a）規(guī)定溫度變化速率的試驗(yàn)：將處于工作狀態(tài)或非工作狀態(tài)的試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱，并以一定速率在低溫與高溫之間改變試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度，使試驗(yàn)樣品經(jīng)受溫度的變化，同時進(jìn)行性能特性檢測。
b）規(guī)定轉(zhuǎn)移時間的試驗(yàn)：將試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫的空氣（或合適的保護(hù)氣體）中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。
核輻射探測器高低溫試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10263-2006 核輻射探測器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
恒定濕熱試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康模捍_定探測器在高相對濕度條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
試驗(yàn)方法： 將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入正常大氣條件的試驗(yàn)箱內(nèi)，并將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和相對濕度調(diào)到規(guī)定值，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
對試驗(yàn)加濕的要求如下：
a）不斷排出試驗(yàn)箱內(nèi)的冷凝水，排出的冷凝水在純化處理前不再用作產(chǎn)生潮濕的水；
b）箱頂和箱壁的冷凝水不要滴落在試驗(yàn)樣品上。
試驗(yàn)方法： 將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入正常大氣條件的試驗(yàn)箱內(nèi)，并將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和相對濕度調(diào)到規(guī)定值，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
對試驗(yàn)加濕的要求如下：
a）不斷排出試驗(yàn)箱內(nèi)的冷凝水，排出的冷凝水在純化處理前不再用作產(chǎn)生潮濕的水；
b）箱頂和箱壁的冷凝水不要滴落在試驗(yàn)樣品上。
低溫試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康模捍_定探測器低溫貯存和使用的適應(yīng)性。
試驗(yàn)方法： 將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入溫度為室溫的試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度調(diào)到規(guī)定值。待試驗(yàn)樣品溫度穩(wěn)定后，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
溫度穩(wěn)定時間可從0.5 h~16 h的范圍內(nèi)選取。 試驗(yàn)過程中試驗(yàn)樣品可處于工作狀態(tài)（低溫使用）或不處于工作狀態(tài)（例如低溫貯存）。
試驗(yàn)方法： 將經(jīng)過預(yù)處理的試驗(yàn)樣品放入溫度為室溫的試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度調(diào)到規(guī)定值。待試驗(yàn)樣品溫度穩(wěn)定后，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。
溫度穩(wěn)定時間可從0.5 h~16 h的范圍內(nèi)選取。 試驗(yàn)過程中試驗(yàn)樣品可處于工作狀態(tài)（低溫使用）或不處于工作狀態(tài)（例如低溫貯存）。
